Palettensystem ZEISS OMEGA

Für optische Messmaschinen

             

Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messmaschinen ZEISS O-INSPECT und O-SELECT konzipiert. Der Messbereich kann komplett ausgeschöpft werden, während Sie von den Vorteilen des Palettensystems profitieren:

  • Werkstücke abseits des Messgerätes aufspannen und wertvolle Maschinenkapazität zum tatsächlichen Messen nutzen
  • Paletten im Handumdrehen wechseln, das verkürzt die Stillstandzeiten zusätzlich
  • das Werkstück ist durch die 3-Punkt-Aufnahme schnell und reproduzierbar ausgerichtet
  • mit Hilfe der Einmesspalette erfolgt die Kalibrierung ebenfalls wiederholgenau und mittig im Messvolumen, ohne langwieriges Aufspannen

Für die O-INSPECT stehen Ihnen verschiedene Paletten abhängig von ihrer Größe zur Verfügung.

 

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