ZEISS Palettensysteme

Aufspannen, Rüsten, Messen

             

Palettensysteme bieten Ihnen zahlreiche Vorteile:

  • Werkstücke abseits des Messgerätes aufspannen und wertvolle Maschinenkapazität zum tatsächlichen Messen nutzen
  • Paletten im Handumdrehen wechseln, das verkürzt die Stillstandzeiten zusätzlich
  • Das Werkstück ist schnell und reproduzierbar ausgerichtet
  • Mit Hilfe der Einmesspalette erfolgt die Kalibrierung ebenfalls wiederholgenau und mittig im Messvolumen, ohne langwieriges Aufspannen

Das Palettensystem ZEISS OMEGA wurde speziell für optische Messgeräte wie ZEISS O-INSPECT und O-SELECT entwickelt.
Das Palettensystem ZEISS THETA ist einsetzbar für taktile Messgeräte, also Portal- und Fertigungsmessgeräte.
Das Palettensystem ZEISS GAMMA dient zum Aufspannen für Computertomografie.
 

 

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